ESTUDO DA OBTENÇÃO E CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS ABSORVEDORES DE RADIAÇÃO ELETROMAGNÉTICA (8,2 - 12,4 GHz) BASEADOS EM FILMES FINOS DE ÓXIDO DE COBRE, COBRE E ALUMÍNIO
DOI:
https://doi.org/10.69609/1516-2893.2024.v30.n1.a3838Keywords:
Electromagnetic absorbers, thin films, magnetron sputteringAbstract
The aim of this work is to study electromagnetic radiation absorbing thin films in the frequency range between 8.2 - 12.4 GHz, based on the copper and aluminum chemical elements, with thicknesses between 30 and 100 nm (in steps of 10 nm). , deposited on poly (ethylene terephthalate) polymer substrate by the magnetron sputtering technique. The results show that copper films with thicknesses between 30nm and 100nm have average values of absorbed energy between 10% (- 0.50 dB) to 48% (- 2.85 dB), and for aluminum between 2.2%. (- 0.10 dB) to 10% (- 0.50 dB). The lower absorption of aluminum compared to copper is related to the lower electrical conductivity of aluminum, which decreases the energy dissipated by the process of electrical depolarization, causing a lower absorption of electromagnetic wave energy.
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